AEC标准简介
AEC简介
汽车电子委员会（Automotive Electronics Council，简称AEC）是一个由汽车制造商和电子元件供应商共同组成的行业组织。该组织的主要目标是制定、发布和维护与汽车电子领域相关的标准和规范，以确保在汽车电子系统中使用的部件的可靠性、性能和一致性。AEC标准被广泛应用于汽车行业，帮助确保车辆的电子系统在不同环境和应力下都能够稳定运行。
目的
AEC成立于1986年，由汽车制造商、电子元件供应商和其他与汽车电子相关的公司共同组成。其成立目的是建立一套统一的标准，以规范在汽车电子系统中使用的元件，从而确保这些元件在汽车环境中的可靠性和性能。
标准制定
AEC制定了许多与汽车电子相关的标准，涵盖了从集成电路到被动元件的各个方面。这些标准包括了基于故障机制的应力测试、环境适应性、电气性能、静电放电、材料要求等内容。
行业认可
AEC标准在汽车行业中得到广泛认可和采用，被许多汽车制造商和供应商用作评估和选择电子元件的依据。这些标准帮助确保所使用的元件在车辆的各种条件下都能够可靠工作，从而提高了整个汽车系统的质量和性能。
标准分类
AEC标准根据元件的类型和应用领域进行分类。例如，AEC-Q100系列针对集成电路，AEC-Q200系列则针对被动元件，还有一些其他系列针对不同类型的部件和应用。
合作和影响
AEC与汽车制造商、电子元件供应商、测试实验室以及其他相关组织合作，以确保其标准的实用性和可行性。其标准的影响不仅局限于汽车制造商，还影响了整个汽车电子供应链。
标准异同
AEC-Q100
基于故障机制的应力测试合格标准，用于集成电路
适用对象
针对集成电路（ICs）进行测试和评估，确保其在汽车应用中的可靠性和性能。
测试范围
包括了多种测试方法，如金线剪切、静电放电、IC Latch-Up、非挥发性存储器耐久性等，以模拟各种应力情况。
目的
旨在验证集成电路在汽车环境中的稳定性、可靠性和性能，确保它们能够正常工作并不会在各种应力下发生故障。
AEC-Q200
应力测试合格标准，用于被动元件
适用对象
针对被动元件（如电阻、电容等）进行测试和评估，以确保它们在汽车电子应用中的可靠性和性能。
测试范围
包括多种测试方法，如阻燃性测试、静电放电测试、弯曲测试等，以模拟被动元件在汽车环境中可能遇到的应力和压力。
目的
旨在验证被动元件在汽车应用中的稳定性、可靠性和性能，确保它们在各种应力下不会引发故障或损坏。
共同点和区别
共同点： 两个标准都旨在确保汽车电子部件在汽车环境中的可靠性和性能。它们都采用了一系列的测试方法来模拟不同的应力情况。
区别： 主要区别在于适用对象。AEC-Q100针对集成电路，而AEC-Q200则针对被动元件。此外，它们的测试范围和测试方法也有所不同，以适应不同类型的部件。
涉及标准
截至2023年8月
AEC - Q100
针对集成电路的基于故障机制的应力测试合格标准，包括各种测试方法，如金线剪切、静电放电、IC Latch-Up、非挥发性存储器耐久性等。
AEC - Q100: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits
基于故障机制的应力测试合格标准，用于集成电路
AEC - Q100 Rev - H: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits (base document)
基于故障机制的应力测试合格标准，用于集成电路（基础文件）
AEC - Q100-001 - Rev-C: Wire Bond Shear Test
金线剪切测试
AEC - Q100-002 - Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test
人体模型（HBM）静电放电测试
AEC - Q100-004 - Rev-D: IC Latch-Up Test
集成电路Latch-Up测试
AEC - Q100-005 - Rev-D1: Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test
非挥发性存储器程序/擦除耐久性、数据保持性和操作寿命测试
AEC - Q100-007 - Rev-B: Fault Simulation and Test Grading
故障模拟和测试分级
AEC - Q100-008 - Rev-A: Early Life Failure Rate (ELFR)
早期失效率（ELFR）
AEC - Q100-009 - Rev-B: Electrical Distribution Assessment
电气分布评估
AEC - Q100-010 - Rev-A: Solder Ball Shear Test
焊球剪切测试
AEC - Q100-011 - Rev-D: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test
带电器件模型（CDM）静电放电测试
AEC - Q100-012 - Rev-: Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
12V系统智能功率器件的短路可靠性表征
AEC - Q101
针对离散半导体器件的基于故障机制的应力测试合格标准，包括测试方法，如人体模型静电放电、金线剪切、带电器件模型静电放电等。
AEC - Q101: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors
基于故障机制的应力测试合格标准，用于离散半导体器件
AEC - Q101 Rev - E: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors (base document)
基于故障机制的应力测试合格标准，用于离散半导体器件（基础文件）
AEC - Q101-001 - Rev-A: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test
人体模型（HBM）静电放电测试
AEC - Q101-003 - Rev-A: Wire Bond Shear Test
金线剪切测试
AEC - Q101-004 - Rev-: Miscellaneous Test Methods
其他测试方法
AEC - Q101-005 - Rev-A: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test
带电器件模型（CDM）静电放电测试
AEC - Q101-006 - Rev-: Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
12V系统智能功率器件的短路可靠性表征
AEC - Q102
针对汽车应用中离散光电半导体器件的基于故障机制的应力测试合格标准，涵盖露点测试、板弯曲测试等。
AEC - Q102: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Optoelectronic Semiconductors in Automotive Applications
基于故障机制的应力测试合格标准，用于汽车应用中的离散光电半导体器件
AEC - Q102 Rev-A: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Optoelectronic Semiconductors in Automotive Applications
基于故障机制的应力测试合格标准，用于汽车应用中的光电半导体器件
AEC - Q102-001 Rev- (Initial Release): Dew Test
露点测试
AEC - Q102-002 Rev- (Initial Release): Board Flex Test
板弯曲测试
AEC - Q102-003 Rev- (Initial Release): Optoelectronic Multichip Modules (OE-MCMs)
光电多芯片模块（OE-MCMs）
AEC - Q103
针对汽车应用中传感器的基于故障机制的应力测试合格标准，包括MEMS压力传感器和MEMS麦克风器件的测试。
AEC - Q103: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Sensors in Automotive Applications
基于故障机制的应力测试合格标准，用于汽车应用中的传感器
AEC - Q103-002 Rev - (Initial Release): Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Micro Electro-Mechanical System (MEMS) Pressure Sensor Devices
基于故障机制的应力测试合格标准，用于微电子机械系统（MEMS）压力传感器器件
AEC - Q103-003 Rev - (Initial Release): Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for MEMS Microphone Devices
基于故障机制的应力测试合格标准，用于MEMS麦克风器件
AEC - Q104
针对汽车应用中多芯片模块（MCM）的基于故障机制的应力测试合格标准，用于确保其在汽车环境中的可靠性。
AEC - Q104: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Multichip Modules (MCM) In Automotive Applications
基于故障机制的应力测试合格标准，用于汽车应用中的多芯片模块（MCM）
AEC - Q104 Rev - (Initial Release): Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Multichip Modules (MCM) In Automotive Applications
基于故障机制的应力测试合格标准，用于汽车应用中的多芯片模块（MCM）
AEC - Q200
针对被动元件（如电阻、电容等）的应力测试合格标准，涵盖各种测试，如阻燃性测试、静电放电测试等。
AEC - Q200: Stress Test Qualification For Passive Components
被动元件应力测试合格标准
AEC - Q200 Rev - E base: Stress Test Qualification For Passive Components (base document)
被动元件应力测试合格标准（基础文件）
AEC - Q200-001 - Rev-B: Flame Retardance Test
阻燃性测试
AEC - Q200-002 - Rev-B: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test
人体模型（HBM）静电放电测试
AEC - Q200-003 - Rev-B: Beam Load (Break Strength) Test
梁载荷（折断强度）测试
AEC - Q200-004 - Rev-A: Measurement Procedures for Resettable Fuses
可复位熔断器测量程序
AEC - Q200-005 - Rev-A: Board Flex / Terminal Bond Strength Test
板弯曲/端子键合强度测试
AEC - Q200-006 - Rev-A: Terminal Strength (SMD) / Shear Stress Test
端子强度（SMD）/剪切应力测试
AEC - Q200-007 - Rev-A: Voltage Surge Test
电压浪涌测试
其他
AEC - Q001 Rev - D: Guidelines for Part Average Testing (provides guidelines for using statistical techniques and extended operating conditions to establish part test limits; this approach could be used to provide “Known Good Die.”)
零件平均测试指南（提供使用统计技术和扩展工作条件来建立零件测试限制的指南；这种方法可以用于提供“已知良好芯片”。）
AEC - Q002 Rev - B: Guidelines for Statistical Yield Analysis (provides guidelines for using statistical techniques to detect and remove abnormal lots of integrated circuits)
统计产量分析指南（提供使用统计技术检测和移除异常批次集成电路的指南）
**AEC - Q003 Rev-A **: Guidelines for Characterizing the Electrical Performance of Integrated Circuit Products
集成电路产品电气性能表征指南
AEC - Q004 Rev- (Initial Release): Automotive Zero Defects Framework (Describes a set of processes, methods, and tools based on industry best practices that suppliers and users of semiconductor products can use to drive to zero defects.)
汽车零缺陷框架（描述一套基于行业最佳实践的流程、方法和工具，供半导体产品的供应商和用户使用，以实现零缺陷。）
AEC - Q005 Rev - A: Pb-Free Test Requirements (Contains a set of tests and defines the minimum requirements for qualification of lead free (Pb-free) metallurgy for components to be used in any automotive electronics application)
无铅测试要求（包含一组测试，并定义用于任何汽车电子应用中使用的无铅（Pb-free）冶金的最低要求。）
AEC - Q006 Rev - A: Qualification Requirements for Components using Copper (Cu) Wire Interconnects
使用铜（Cu）线互连的元件合格要求
参考：
Automotive Electronics Council(AEC)官网 http://www.aecouncil.com/